SMM-300 罐盖刻线检测仪

SMM-300罐盖刻线检测仪，采用显微镜测量技术，测量罐盖刻线深度和剩余厚度。采用超高清晰度CCD摄像系统，通过在显示器上显示罐盖刻线凹槽底部的清晰图像来方便定位，测量数据准确可靠、重现性好！罐盖装夹在一个3维工作台上，方便定位和测量。配置进口数显千分表，精度达到1um (0.001mm)。
其测量原理是采用显微镜对焦测量法，显微镜得到图像清晰表明对焦正确，显微镜焦点的位置高低变
化反映了“罐盖刻线”的深浅。采用硬质合金制造的球形的下测量头半径很小，显微镜对焦在下测量头，
将数显千分表调零，放入罐盖，调整显微镜焦点，当在显示器上显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线
剩余厚度。放入罐盖，将显微镜对焦罐盖上表面（刻线边沿），调零，调整显微镜焦点，当在显示器上
显示刻线凹槽底部的清晰图像，得到刻线深度。
 
测量图像非常清晰，保证测量准确  
调零图像非常清晰，保证调零准确

SMM-300 罐盖刻线检测仪（电脑型）
优点
（1） 镜头“工作距离”达8.2mm（工作距离是指调焦清晰时镜头和被测物体表面的距离）。解决了EO盖刻线位置与盖边沿落差较大的问题。可满足各种罐盖的刻线测量。例如：RP、SOT、EO……。
（2） 采用进口光学元器件，图像清晰，确保检测数据准确。
（3） 可测量不同大小的罐盖。标配：最大罐盖直径达110mm，订货时可以选择更大；
（4） 与世界领先技术同步的单镜头设计，可连续变倍，可调节相应的放大倍数，便于观察者观察。
（5） 使用日本进口的测微计及显示仪表，分度值达1um。确保测量结果准确。
（6） 配软件，可实现数据库管理和打印报表，便于数据统计和图像保存。
（7） 屏幕十字线功能。保证校准点与测量点严格重合。
（8） 配有校准块。
（9） 夹具平台可升降，消除样品盖倾斜造成的误差

技术参数
  样品盖类型: RP、SOT、EO
    测量范围: 0-10mm
        分度: 1μm（0.001mm）
      重现性: 2μm (0.002mm)
镜头工作距离: 8.2mm
    放大倍数: 1000 X
        尺寸: 250 x 300m x 600 mm
        重量: 15 kg 

仪器配置：
1) SMM-300刻线测量显微镜
2) 数据显示器和数据输出模块
3) CND_SMM1.0软件
4) 校准块 0.5mm,1.0mm
5) 校准夹具
选购：
6) 计算机