TerraSpec4 HI-RES可进行快速，精准的矿物勘探
作为地质研究领域内的支柱产品，TerraSpec系列矿物分析仪已被看做矿物分析的必备技术。TerraSpec4 Hi-Res矿物分析仪的光谱分辨率可达6nm，高度便携且坚固耐用，同时扩展无线通讯功能，可帮助用户比以往更快地确定矿物勘探靶区。这款设备在SWIR1和SWIR2范围内性能得到了增强，采集光谱数据更快速、更准确，特别是对深色矿物样品。
• 增强型光学元件提供了更加精确的光谱结果，增加光谱的清晰度。
• SWIR1/SWIR2光谱范围内的性能得到了2倍的提升，可更好的进行蚀变矿物分析。
• 提升的便携性能（新款背包和标配的802.11g WiFi），用户可在勘探现场轻松行动。
• 无损测量，意味着快速野外扫描。
独特应用：
• 矿物勘查
• 矿床测绘
• 矿物成分鉴定
• 钻屑分析
• 岩芯编录
• 早期探矿
对于矿采地质学家来说，设备性能的提升意味着数据采集速度更快和得到更高质量的数据。性能提升后对低浓度和低反射率矿物的准确评估也成为可能，像含铁矿物，例如蛇纹石和绿泥石，在此之前，测量这些矿物很困难。TerraSpec4 Hi-Res矿物分析仪已经被广泛用于一系列矿物的勘探，包括矿床测绘。
规 格
性能参数
波长范围 350-2500nm
光谱分辨率 3nm @700 nm
6nm @ 1400/2100 nm
扫描时间 100ms
信号噪声比(N/S)：
VNIR 9000:1@ 700 nm
SWIR 1 9000:1@ 1400 nm
SWIR 2 4000:1@ 2100 nm
杂散光 VNIR:5000:1(0.02%)
NIR: 10000:1(0.01%)
波长重现性 0.1nm
波长准确性 0.5nm
通道数 2151
VNIR检测器 （350-1000nm）512 Si阵列
SWIR 1 & SWIR 2 检测器 （1001-1800nm）&（1801-2500nm）阶梯折射InGaAs光电二极管，TE制冷
认证及许可
CE认证 EN61010-1:2001 第二版
欧盟指令 2006/95/EC,2004/108/EC
NIST可追踪式校对
WEEE兼容
通讯
有线 10/100 Base T以太网端口，以太网交叉电缆
无线 802.11g无线网卡
物理参数和使用环境
尺寸(H×W×D) 12.7 × 36.8 × 29.2 cm
主机重量 5.44 kg(12 lbs)
电池重量 1.2kg（2.7lbs）
电池运行时间 约6小时（未接光源或其他附件）
工作温度 0~40 ℃
存储温度 -15~45 ℃
输入电源 AC/DC开关电源和密封铅酸胶体电池
AC输入 90-240VAC, 50/60Hz
DC输入 12VDC, 60W
辅助端口电源 输出，+12VDC,27Watt（最大）
其它配置
软件 RS3™光谱采集软件（同SpecMin地学软件兼容）
ViewSpec™Pro后处理软件，可选Indico® Pro软件
可携带 坚固的仪器运输箱，可定制的野外背包（含软质旅行包）
电脑 Windows®7 64位笔记本电脑（仪器控制器）
