leeb251涂层测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。 leeb251涂层测厚仪技术参数： 测头类型 Leeb251 测头类型 N1 工作原理 电涡流 测量范围 0~1250μm 低限分辨率 1μm 示值误差 一点校准 ±（3%H+1） 二点校准 ±[（1~3%)H+1] 测试条件 最小曲率半径mm 凸1.5、凹9 最小面积直径mm Φ7 基本临界厚度mm 0.5 工作环境 温度 0~40℃ 湿度 20%~90% 电源 AAA型碱性电池1.5V四节 外形尺寸 150×55.5×23mm（主机） 重量 120g 标准配置 主机、标准试片、基体、AAA型碱性电池
